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蚌埠透射电镜样品制备要求标准规范最新版是什么

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透射电镜(TEM)是一种重要的显微镜,用于观察微小物体的结构和性质。透射电镜样品制备要求标准规范是保证TEM成像质量的重要因素。本文将介绍透射电镜样品制备要求标准规范的最新版。

透射电镜样品制备要求标准规范最新版是什么

一、透射电镜样品制备要求标准规范的背景

1.1 透射电镜样品制备的重要性

透射电镜样品制备是TEM成像的基础。TEM能够对样品进行高分辨率的成像,从而为分析样品提供了详细的信息。因此,制备高质量、均匀的样品对于TEM成像至关重要。

1.2 透射电镜样品制备的要求

透射电镜样品制备的要求主要包括以下几个方面:

(1)样品准备:样品应该是干净、无污染的。制备过程中可能需要使用洁净工作台、超净工作台等设备。

(2)样品处置:样品在制备过程中应避免受到挤压、摩擦等损伤。例如,在搬运、称量、切割等过程中,应尽量减少对样品的损伤。

(3)样品尺寸:样品尺寸应适中,以便于在TEM仪器中进行成像。通常情况下,样品厚度应小于100nm,直径应小于200nm。

(4)样品制备方法:制备方法应确保样品均匀、致密。例如,通过溅射法、化学气相沉积法等方法制备样品。

(5)样品储存:制备好的样品应保存在适当的条件下,如干燥、低温等,以避免样品的降解或污染。

二、透射电镜样品制备要求标准规范的最新版

2.1 ISO 12243-2017《金属和非金属固体样品制备指南》

ISO 12243-2017是关于透射电镜样品制备的 international standard(国际标准)。该标准详细规定了固体样品制备的方法、要求、试验步骤和设备等。ISO 12243-2017 的颁布,为透射电镜样品制备提供了国际通用的技术依据。

2.2 NIST SP 810-1999《透射电子显微镜样品制备指南》

NIST SP 810-1999是美国国家标准与技术研究院(NIST)发布的一份关于透射电子显微镜(TEM)样品制备的指南。该指南详细介绍了样品制备的方法、步骤和设备,为透射电镜样品制备提供了美国国家标准的指导。

2.3 其他相关标准

除了上述两个标准外,还有其他一些与透射电镜样品制备相关的标准,如:

(1)GB/T 18286-2000《电子显微镜样品制备通则》

(2)DAST M 3122-2016《电子显微镜样品制备指南》

透射电镜样品制备要求标准规范的最新版为ISO 12243-2017《金属和非金属固体样品制备指南》、NIST SP 810-1999《透射电子显微镜样品制备指南》及其他相关标准。这些标准为透射电镜样品制备提供了详细的技术要求和指导,有助于保证TEM成像质量。

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